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11 May

Terceras Jornadas Interdisciplinarias de Análisis Avanzado de Imágenes y Señales

13:30 HS. - UTN, Medrano 927
jiaais_2017

Junto a otras dos universidades, el departamento de Ingeniería Informática presenta un evento que se extenderá dos días y que refleja la vinculación y cooperación académica.

El evento -que se llevará a cabo el 11 y 12 de mayo en la sede de Medrano de la UTN Regional de Buenos Aires- se encuadra dentro del proyecto “Determinación del parámetro óptimo de textura de la distribución GI0 para el caso single look, a partir de la combinación de estimadores paramétricos, bayesianos y distancias estocásticas”, elaborado por las tecnólogas que organizan las jornadas.

El 28 de abril es la fecha límite de presentación de ponencias: los resúmenes de los trabajos serán publicados en internet y además se entregarán certificados de asistencia y de exposición.

El ingreso a las “Terceras Jornadas Interdisciplinarias de Análisis Avanzado de Imágenes y Señales” es libre y gratuito, por lo que no necesita inscripción previa.

Para más información: http://jiaais.it.itba.edu.ar/index.html

11 de mayo de 2017

13:30 Apertura
Moderador: Dra. Juliana Gambini
• 13:40 “Methods and Frameworks for Sampling GI0 data”. Lic. Y Esp. Débora Chan- Dra. Andrea Rey, UTN.
• 14:20 “Detección de Crisis en Señales Epilépticas usando la Distribución Gaussiana Generalizada”. Mg. Ing. Antonio Rincón Quintero, Dpto. de Bioingeniería, ITBA.
• 15:00 “Histogram of Gradients as a Discriminative Tool to Characterize Biological Signals”. Ing. Rodrigo Ramele, Dpto. Ingeniería Informática, ITBA.
• 15:40 Coffe